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详细介绍
品牌 | HORIBA/堀场 | 行业专用类型 | 其它 |
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价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 台式/落地式 |
应用领域 | 生物产业,地矿,能源,制药 |
HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪
XGT-9000
速度和灵活性兼备是微区X射线荧光光谱的发展方向
<15µm高强度X射线头,兼具高灵敏度和高空间分辨率
高分辨相机和多种照明模式成像
双检测器,荧光X射线检测器和透射X射线检测器
轻元素检测器使元素检测范围下延到C元素
HORIBA堀场微区X射线荧光分析仪
技术参数
型号 |
XGT-9000 |
XGT-9000SL |
基本信息 |
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仪器 |
微区X射线荧光分析仪 |
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样品类型 |
固体、液体、颗粒 |
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检测元素 |
轻元素检测器:C* – Am |
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样品仓尺寸 |
450(W) x 500(D) x 80(H) |
1030(W) x 950(D) x 500(H) |
样品尺寸 |
300(W) x 250(D) x 80(H) |
500(W) x 500(D) x 500(H) |
样品质量 |
1 kg |
10 kg |
光学观察 |
两个带物镜的高分辨率相机 |
|
光学设计 |
垂直同轴X 射线和光学观察 |
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样品照明/观察 |
顶部、底部和侧向照明/明场和暗场 |
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X-射线管 |
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功率 |
50 W |
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电压 |
50 kV以下 |
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电流 |
1 mA以内 |
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靶材 |
Rh |
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X射线光光学系统 |
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X射线头数量 |
多达配置四个 |
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光谱优化初级X-射线滤光片 |
5个位置 |
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检测器 |
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荧光X-射线检测器 |
硅漂移检测器(SDD) |
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透射X射线检测器 |
NaI(Tl) |
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扫描分析 |
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扫描范围 |
100 mm x 100 mm |
350 mm x 350 mm |
步进尺寸 |
2 mm |
4 mm |
Operating mode |
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样品环境 |
全真空/局部真空/大气环境/He吹扫(选配) |
局部真空/大气环境/He吹扫(选配)*He吹扫条件对于两个检测器都检测到C和F是必要的。 |
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